企业级IT与信创国产化深度观察 | 大观视界
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参数规格
共 8 项| 产品名称 | 半导体测试板 |
|---|---|
| 产品系列 | 企业级IT产品 |
| 官方介绍 | BIB（BURN IN BOARD，老化测试），完成封装测试的IC在特定的工况和时间内老化测试... |
| Load Board | 测试负载板是一种连接测试设备与被测器件的机械及电路接口，主要应用在半导... |
| probe card | 探针卡在CP测试中用于连接测试机和Die上的Pad，通常作为Loadboard的物理接口... |
| BIB | BIB（BURN IN BOARD，老化测试），完成封装测试的IC在特定的工况和时间内老化测试... |
| Interposer | Probe card 的信号通过interposer中介层的转换让Probe head（探针头）的探针可以接收到信号... |
| 资料来源 | 企业官网产品页 https://www.chinafastprint.com/product/semiconductor |
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