兴森科技 probe card
兴森科技 企业级IT产品 e企观

兴森科技 probe card

探针卡在CP测试中用于连接测试机和Die上的Pad,通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加 到Loadboard上。应用:晶元切割前,透过pc可以测试晶圆品质,避免不良产品产生封装成本。

参数规格

共 6 项
产品名称 probe card
产品系列 企业级IT产品
官方介绍 探针卡在CP测试中用于连接测试机和Die上的Pad,通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加 到Loadboard上。应用:晶元切割前,透过pc可以测试晶圆品质,避免不良产品产生封装成本。
产品简介 探针卡在CP测试中用于连接测试机和Die上的Pad,通常作为Loadboard的物理接口,在某些情况下ProbeCard通过插座或者其它接口电路附加 到Loadboard上。应用:晶元切割前,透过pc可以测试晶圆品质,避免不良产品产生封装成本。
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资料来源 企业官网产品页 https://www.chinafastprint.com/product/detail/21

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